У. Жу, Ж.Л. Уанг. Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий

Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям.

Издательство: БИНОМ
ISBN: 978-5-9963-2123-0
Год: 2013
Формат: PDF
Страниц: 598

 

Скачать книгу (19,3 МБ):