И.Я. Козырь. Качество и надежность интегральных микросхем

В пособии приведены сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем; рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности, а также вопросы прогнозирования и повышения показателей качества и надежности ИМС и БИС.

Издательство: Высшая школа
Год: 1987
Серия: Микроэлектроника: Учебное пособие для втузов. Книга 5
Формат: pdf
Страниц: 138
Язык: русский

 

Скачать книгу (4,2 МБ):